Microscópio de varredura em túnel

Primeiro a dica é trazida muito perto da coisa que está sendo examinada, cerca de 4-7 angstroms. Em seguida, a ponta é movida com muito cuidado através da coisa a ser testada. Esta mudança na corrente quando ela é movida pode ser medida (modo altura constante). A altura da ponta onde ela sempre tem a mesma corrente também pode ser medida (modo de corrente constante). O uso de um modo de altura constante é mais rápido.

As partes de um STM são: ponta de escaneamento, algo que movimenta a ponta, algo que a impede de vibrar, e um computador.

• Microscópio

• Tersoff, J.: Hamann, D. R.: Theory of the scanning tunneling microscope, Physical Review B 31, 1985, p. 805 - 813.
• Bardeen, J.: Tunnelling from a many-particle point, Physical Review Letters 6 (2), 1961, p. 57-59.
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• G. Binnig, H. Rohrer, Ch. Gerber, e E. Weibel, Phys. Rev. Lett. 50, 120 - 123 (1983)
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• G. Binnig, H. Rohrer, Ch. Gerber, e E. Weibel, Appl. Phys. Lett., Vol. 40, Número 2, pp. 178-180 (1982)
• R. V. Lapshin, Metodologia de varredura orientada a recursos para microscopia de sonda e nanotecnologia, Nanotecnologia, volume 15, edição 9, páginas 1135-1151, 2004